FCBGA封裝與檢測(cè)核心清潔痛點(diǎn)與難點(diǎn)
FCBGA(倒裝芯片球柵陣列)作為高端芯片的核心封裝形式,其錫球、基板、封裝腔體的潔凈度直接決定芯片的電性性能與可靠性,全流程清潔痛點(diǎn)突出:
封裝組裝環(huán)節(jié):焊錫、植球工藝易產(chǎn)生焊錫殘?jiān)⒅竸埩簦?xì)微金屬顆粒易附著在錫球間隙或基板表面,傳統(tǒng)清潔易損傷錫球、破壞封裝腔體氣密性,且難以清除間隙內(nèi)的細(xì)微雜質(zhì);
電性檢測(cè)環(huán)節(jié):微塵、油污會(huì)覆蓋測(cè)試觸點(diǎn),干擾探針臺(tái)的電性測(cè)試,易造成誤判漏檢,同時(shí)接觸式清潔會(huì)導(dǎo)致錫球變形、基板刮傷,引發(fā)芯片短路、接觸不良等故障;
高端應(yīng)用環(huán)節(jié):服務(wù)器、AI芯片用FCBGA對(duì)潔凈度要求達(dá)到微米級(jí),人工清潔效率極低、一致性差,接觸式清潔設(shè)備的二次損傷風(fēng)險(xiǎn),進(jìn)一步提升了清潔作業(yè)的技術(shù)難度。
東凱·非接觸式旋風(fēng)清潔設(shè)備解決方案
針對(duì)上述痛點(diǎn),我們的設(shè)備可精準(zhǔn)適配FCBGA的精密結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)無損高效清潔:
特種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì):微米級(jí)多吸入口陣列布局,精準(zhǔn)覆蓋錫球間隙與封裝腔體邊角,配合負(fù)壓精準(zhǔn)吸附,高效收集細(xì)微污染物,杜絕清潔過程中的二次污染與錫球位移;
穩(wěn)定性能保障:高精度轉(zhuǎn)速監(jiān)控+減震轉(zhuǎn)軸升級(jí),供氣壓波動(dòng)或即使達(dá)到5.0㎏/?時(shí)仍保持恒定低震轉(zhuǎn)速,確保清潔過程中錫球、基板無損傷,封裝結(jié)構(gòu)不被破壞;
精準(zhǔn)高效清潔:基于現(xiàn)場(chǎng)經(jīng)驗(yàn)與氣流模擬算法,優(yōu)化氣嘴孔徑與氣流壓力,實(shí)現(xiàn)非接觸式精密除塵,徹底清除錫球間隙的焊錫殘?jiān)c微塵;
降本提質(zhì)優(yōu)勢(shì):可集成至FCBGA檢測(cè)流水線,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化清潔,減少人工干預(yù),提升檢測(cè)通過率與封裝良率,降低返工與報(bào)廢成本,適配各類FCBGA高端封裝場(chǎng)景。